推拉力測(cè)試臺(tái)電路板元器件測(cè)試儀-一臺(tái)高精度的推拉力測(cè)試機(jī),測(cè)試方式有破壞性、非破壞性,適用于 IC封裝、光通訊器件封裝、LED 封裝、CCM 器件封裝、智能卡器件封裝、COB/COG 邦定、SMT元件焊接、材料力學(xué)及可靠性研究使用。
提供各種推力、拉力的測(cè)試模組,測(cè)試固定治具,以及各種鉤針 Pull)、推刀(Shear)、夾爪(Tweezer),以符合各種測(cè)試需要。推力為 200Kg,拉力為 20Kg,X/Y 平臺(tái)的最移動(dòng)距離為為 100mm,Z軸的移動(dòng)距離為 60mm。(更多需求均可定制)
推力測(cè)試模組采用雙支架垂直定位技術(shù) VPM(VerticalPosition Technology),以及氣浮式觸底設(shè)計(jì),推力測(cè)試時(shí),推刀觸底力(Landing Force)輕,定位速度快、高度準(zhǔn)確,無(wú)水平偏移。拉力測(cè)試模組也是采用雙支架垂直牽引技術(shù)VPM(Vertical Point Movement Technology),拉力測(cè)試時(shí),主力軸不會(huì)偏斜、無(wú)位移,可消除分力所產(chǎn)生的測(cè)試值偏低的問(wèn)題,同時(shí)鉤針可以 360 度旋轉(zhuǎn),可用于任何角度的拉力測(cè)試使用。
所有的推拉力測(cè)試模組都是使用 24Bits 高解析度的 AD 轉(zhuǎn)換器,直接將傳感器的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),可避免傳感器的信號(hào)在傳輸時(shí)被雜迅干擾,所以傳感器量測(cè)精度小于等于 0.1% FS(Full Scale),同時(shí)也使用數(shù)字閉環(huán)技術(shù) DGFT(Digital ForceTest),校正好的測(cè)試模組可以直接安裝在不同的機(jī)臺(tái)上使用,不需要再重新校正。
具有自動(dòng)檔位功能(Auto Rang),在不同擋位的測(cè)試精度都會(huì)是一樣,所以機(jī)臺(tái)測(cè)試精度小于等于 0.25% FS(Full Scale)。
軟件功能使用非常容易,可節(jié)省人員的學(xué)習(xí)時(shí)間,也可以選擇中文或英文使用介面,測(cè)試數(shù)據(jù)以 Excel 格式輸出,并提供資料統(tǒng)計(jì)分析工具以及各種圖形顯示功能,可做為產(chǎn)品品質(zhì)管理使用。
推拉力測(cè)試機(jī)核心競(jìng)爭(zhēng)力:
測(cè)試精度高:綜合測(cè)試精度0.25%。
測(cè)試范圍廣:任意組合可實(shí)現(xiàn)多種功能測(cè)試
測(cè)試速度快:能夠?qū)崿F(xiàn)高速測(cè)試,提高測(cè)試效率,節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
操作簡(jiǎn)便:簡(jiǎn)易操作模式,方便、有效。
設(shè)備穩(wěn)定性高:程式化自動(dòng)測(cè)試
數(shù)據(jù)處理方便:能夠自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),并提供數(shù)據(jù)處理。
綜上所述,博森源推拉力測(cè)試機(jī)具有高精度、廣泛的測(cè)試范圍、快速的測(cè)試速度、簡(jiǎn)便的操作、方便的數(shù)據(jù)處理和穩(wěn)定的設(shè)備性能等核心競(jìng)爭(zhēng)力,能夠滿足用戶(hù)的各種測(cè)試需求,是材料測(cè)試領(lǐng)域的重要設(shè)備之一。
設(shè)備測(cè)試參數(shù):
設(shè)備型號(hào):LB-8100A
測(cè)試精度:傳感器精度±0.003%;綜合測(cè)試精度±0.25%
測(cè)試范圍:根據(jù)客戶(hù)產(chǎn)品配置不同量程測(cè)試模塊
工作方式:推針及拉針180度垂直與測(cè)試產(chǎn)品接觸,確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性
傳感器更換方式:手動(dòng)更換測(cè)試模組
操作系統(tǒng):控制系統(tǒng)+Windows操作界面
平臺(tái)夾具:機(jī)臺(tái)可共用各種夾具,夾具可360度旋轉(zhuǎn)
X軸行程:75mm
X軸分辨率:+/-0.002mm
Y軸行程:75mm
Y軸分辨率:+/-0.002mm
Z軸行程:80mm
Z軸分辨率:+/-0.001mm
電源:220V±5%
功率:300W(MAX)
外型尺寸:長(zhǎng):500*550*440mm
重量:80kg
推拉力測(cè)試臺(tái)電路板元器件測(cè)試儀