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廣電計量檢測集團股份有限公司

SuperLIX-R非接觸法激光熱膨脹儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2024/3/12 19:25:20
  • 訪問次數(shù)173
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凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司"的前身為"瑞典凱戈納斯有限公司上海代表處,是由瑞典Hot Disk有限公司注資成立的。公司開發(fā)、制造并銷售瑞典Hotdisk品牌熱常數(shù)分析儀等世界的*分析儀器,同時是多家*儀器供應商在中國區(qū)的代理商,這包括日本Advance Riko公司的紅外金面反射爐和ZEM系列塞貝克系數(shù)電阻測量系統(tǒng),加拿大Thermtest公司的熱流計和法導熱系數(shù)儀,日本Ai-Phase公司的薄膜熱擴散系數(shù)測試儀,日本AGUS公司的SPS放電等離子燒結(jié)爐及退火爐,以色列Nanonics公司的原子力顯微鏡AFM/掃描探針顯微鏡SPM以及原子力拉曼光譜電鏡AFM+Raman+SEM/SPM聯(lián)用系統(tǒng),中國臺灣佐信公司的MRIX顯微拉曼光譜儀,瑞典SERSTECH公司的手持型拉曼光譜儀等。 競爭力 母公司HOTDISK在范圍內(nèi)擁有眾多系統(tǒng)用戶,并在英國、美國、德國、日本等二十個國家和地區(qū)設立了分支機構。 瑞典Hot Disk公司主要開發(fā)、制造并銷售基于瞬變平面熱源技術(TPS)的熱導率、熱擴散率和比熱容的測試儀器;日本Advance Riko公司利用的技術優(yōu)勢開發(fā)了市場的紅外金面反射爐和ZEM系列塞貝克系數(shù)電阻測試系統(tǒng);日本Ai-Phase公司*研發(fā)了紅外熱波技術直接測量薄膜材料垂直方向熱擴散系數(shù)的測試儀,彌補了現(xiàn)有市場對于薄膜材料熱擴散系數(shù)研究的空白;日本AGUS公司通過多年為代工的豐富經(jīng)驗推出了自研發(fā)的高性價比SPS放電等離子燒結(jié)爐; 以色列NANONICS IMAGING LTD.是業(yè)界將近場光學顯微鏡(NSOM)技術和原子力顯微鏡(AFM)相技術相結(jié)合的*,NANONICS憑借著實力和品質(zhì),其產(chǎn)品涉足的領域從科研到工業(yè),從生物學到半導體,從化學制品到無線電通訊,應用范圍極其廣泛。公司新近推出了材料表征連用技術,包括Nanonics系列電鏡(AFM、SPM)與拉曼光譜儀和掃描電鏡SEM的組合一體機,多探針近場光學掃描顯微鏡,具有很高的性價比和競爭力;中國臺灣佐信公司自研發(fā)了兼具臺式顯微鏡拉曼和便攜式拉曼光譜優(yōu)勢的MRIX系列顯微拉曼光譜儀,利用直射式激光照明模塊克服了便攜式拉曼光譜光路易偏離難調(diào)節(jié)的缺點,利用模塊話的光路設計克服了臺式顯微鏡無法輕易移動的缺點;瑞典SERSTECH公司研發(fā)的手持型拉曼光譜儀將復雜的顯微拉曼技術簡易化,在無需樣品復雜處理并且不會破壞樣品的前提下完成數(shù)秒鐘內(nèi)任何化學物質(zhì)的鑒識,廣泛的應用于,藥品,麻醉藥品,危險化學品等測試領域,提成本效益的拉曼測試方案。 技術保障&售后服務 凱戈納斯儀器商貿(mào)(上海)有限公司的銷售工程師兼具安裝調(diào)試和售后服務的能力,確保您在設備前期調(diào)研即可獲取專業(yè)的技術方案,并提供在設備后期使用時的一條龍技術服務。位于上海虹口區(qū)的辦公司配備了Hotdisk公司的TPS3500型號熱常數(shù)分析儀及中國臺灣佐信公司的MRIX顯微拉曼光譜儀樣機,隨時提供客戶免費的調(diào)研檢測服務,期待您的咨詢及合作!
分析儀、光譜儀
SuperLIX-R非接觸法激光熱膨脹儀
SuperLIX-R非接觸法激光熱膨脹儀 產(chǎn)品信息

應用案例
* 零膨脹材料的研制
* 負極負熱膨脹材料的研制
* 標準材料開發(fā)
* 致動器材料的開發(fā)
用途
* 10-9/K級極低膨脹系數(shù)材料(玻璃,陶瓷,金屬等)的高精度熱膨脹測量
* 半導體生產(chǎn)裝置光學曝光元件的測量
* 測量精密載物臺零件
* 航空航天相關高精度所需材料的測量
* 高精度光圖基板構件的測量
* 低膨脹系數(shù)材料的質(zhì)量控制
* 標準熱膨脹儀校準樣品的測量
特點
* 通過在設備中包括振動消除機構,可以防止振動擾動的影響,并且可以在能夠穩(wěn)定使用普通電子天平(0.01毫克分辨率)進行分析的環(huán)境中進行測量。(日本:2016-058190、058191、058192)
* 測量樣品相對于激光波長(632.8 nm)的位移量。集成光學元件可以消除雜散光,提高干涉條紋信號的 信噪比。不需要特殊位移校準的測量和操作。
* 通過用圖像傳感器檢測干涉條紋并對其進行圖像處理,即使在樣品測量過程中,也可以以高分辨率(1納 米)計算位移(膨脹/收縮)量,并確認膨脹系數(shù)。
* 符合JIS R3251-1990標準
設備參數(shù)
應用實例
15168338725
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