描述

薄膜測(cè)試系統(tǒng)提供完整的一套膜厚測(cè)試系統(tǒng)，可以對(duì)單層或多層的5nm-200um的快速測(cè)試。這套系統(tǒng)包含便攜式光纖光譜儀，反射式探針和光源。通過樣品正面反射的正弦條紋圖得到反射和膜厚的光學(xué)特性，多種可選擇模式滿足不同的膜厚和光學(xué)需求。

ThinFilmCompanion系統(tǒng)特性

實(shí)時(shí)光譜捕捉和儀器控制（反射和透射測(cè)試）

內(nèi)置大量材料數(shù)據(jù)

支持多層，單層，粗，厚膜和薄膜結(jié)構(gòu)測(cè)試

新材料數(shù)據(jù)可以輕松添加

實(shí)際測(cè)試和文件導(dǎo)入

支持復(fù)合物材料測(cè)試

TF軟件

采用用戶友好界面軟件可以快速測(cè)試膜厚和光學(xué)常數(shù)（n和k值），是復(fù)雜的測(cè)試變得簡(jiǎn)單化。這個(gè)軟件內(nèi)部包含大量 的材料數(shù)據(jù)資料，使得的測(cè)試范圍更廣，多層膜，單層膜，粗糙的，薄膜，厚膜等都可以測(cè)試，并且新材料的數(shù)據(jù)也可以隨時(shí)導(dǎo)入到軟件中。

    主要測(cè)試過程包含兩部分：數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析。TF系統(tǒng)定義了所有測(cè)試過程，并且向用戶開放，同時(shí)用戶也可以此 基礎(chǔ)來存儲(chǔ)數(shù)據(jù)和后續(xù)開發(fā)。