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北京蘇瑞試驗設備有限公司
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溫度沖擊試驗箱設備用途 溫度沖擊試驗箱適用于考核各種產品零部件和材料及家用電器、儀器、儀表、元器件、電子、電工及汽車、航空、手機通訊、摩托車、塑膠、機械、五金工具在高溫、低溫瞬間轉化環(huán)境條件下的適應性試驗，溫度沖擊試驗箱可供各種科研機構及企事業(yè)單位試驗室做可靠性及耐久性試驗
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溫度沖擊試驗箱設備用途
溫度沖擊試驗箱適用于考核各種產品零部件和材料及家用電器、儀器、儀表、元器件、電子、電工及汽車、航空、手機通訊、摩托車、塑膠、機械、五金工具在高溫、低溫瞬間轉化環(huán)境條件下的適應性試驗，溫度沖擊試驗箱可供各種科研機構及企事業(yè)單位試驗室做可靠性及耐久性試驗。
溫度沖擊試驗箱箱體結構特點
控制器(controller)
冷凍及風路循環(huán)系統
型號規(guī)格Model and specification
經國家環(huán)境試驗設備質量監(jiān)督檢測中心檢測，符合“環(huán)境試驗設備技術條件"系列國家標準中的：
GB/T2423.1—2008《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗A：低溫試驗方法
GB/T2423.2—2008《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗B：高溫試驗方法
GB/T2423.4—2008《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程》 試驗Db：溫度變化試驗方法
GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備
GB2423.22-87 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗方法
GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗方法
GB/T10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB/T11158-89 高溫試驗箱技術條件
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