大腦皮質(zhì)厚度與認(rèn)知能力相關(guān)

麻省總醫(yī)院的Bradford Dickerson博士等人近日在《神經(jīng)學(xué)》（Neurology）雜志上報(bào)道稱，大腦皮質(zhì)變薄與認(rèn)知能力下降有關(guān)。該報(bào)道中研究人員觀察了大腦的9個(gè)區(qū)域，發(fā)現(xiàn)這些區(qū)域大腦皮質(zhì)厚度較低而認(rèn)知能力正常的患者，其認(rèn)知能力在3年后有所下降。

此前研究人員發(fā)現(xiàn)了一種名為ADsig的生物標(biāo)記，可用來標(biāo)記大腦皮質(zhì)的厚度，并證實(shí)大腦皮質(zhì)變薄是輕度阿爾茨海默病性癡呆的可靠標(biāo)記，并能預(yù)測(cè)阿爾茨海默病患者的認(rèn)知障礙。

該研究中，通過MRI檢查受試者的腦皮質(zhì)厚度，并將159名認(rèn)知能力正常者依照ADsig分為3組。19名腦皮質(zhì)厚度至少比平均水平低一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差者被認(rèn)為是發(fā)生認(rèn)知障礙的高風(fēng)險(xiǎn)者，稱為低ADsig組；另外116名受試者為平均ADsig組，其腦皮質(zhì)厚度在平均水平上下一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差范圍內(nèi)；zui后24名為高ADsig組，其腦皮質(zhì)厚度比平均水平至少高一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差。

3年后，125名受試者的測(cè)試數(shù)據(jù)被認(rèn)為有認(rèn)知能力改變，其中包括：9名受試者的綜合測(cè)試結(jié)果顯示有認(rèn)知能力下降；高危險(xiǎn)組的14名受試者中有3名發(fā)生了認(rèn)知能力下降，占21.4%；平均ADsig組的90名受試者中有6名發(fā)生了認(rèn)知能力下降，占6.6%；高ADsig組的21名受試者其認(rèn)知能力均沒有下降。Logistic回歸分析發(fā)現(xiàn)，基線ADsig水平與認(rèn)知能力下降的相關(guān)性較強(qiáng)，其腦皮質(zhì)厚度每下降一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差，認(rèn)知能力的下降程度約為3倍。

作者稱，該研究為檢測(cè)發(fā)生阿爾茨海默病的風(fēng)險(xiǎn)提供了新的方法，在老年癡呆疾病的檢測(cè)及預(yù)后判斷中具有重要意義。