探討高溫電阻率測(cè)試儀的性能

【資料簡(jiǎn)介】

 高溫電阻率測(cè)試儀 型號(hào)：GDT

該高溫電阻率測(cè)試儀是測(cè)量碳素塊狀材料在高溫環(huán)境下導(dǎo)電性能的儀器。該儀器由控溫系統(tǒng)、高溫爐、和測(cè)量系統(tǒng)組成。  
高精度穩(wěn)壓恒流源：  
輸入：220V±10% 功耗：≦300VA  
輸出：電壓0～24V 電流0～40A 精度0.01  
測(cè)試容器：  
試樣直徑: Φ20～Φ50mm  
試樣長度: 100mm  
電壓端子間距離：可調(diào)  
試樣尺寸測(cè)量：數(shù)字顯示卡尺,0～150mm,精度0.01mm.  
電壓測(cè)量：數(shù)顯電壓表，量程0～199.99MV,精度0.01MV  
控溫系統(tǒng)：  
溫度范圍：室溫～900℃  
控溫儀表：日本*微電腦智能程序控溫儀, SSR固態(tài)繼電器驅(qū)動(dòng),熱電偶自由輸入.