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標(biāo)準(zhǔn)制冷量	根據(jù)貴司工藝需求	加工定制	是
結(jié)構(gòu)類(lèi)型	活塞式	輸入功率	根據(jù)機(jī)組大小kw
外形尺寸	根據(jù)機(jī)組大小	應(yīng)用領(lǐng)域	新能源,新材料，化工，汽車(chē)，環(huán)保，石油化工，航天航空電子元件，半導(dǎo)體，制藥等行業(yè)
重量	根據(jù)機(jī)組大小kg

電子元器件老化測(cè)試-55℃至+125℃高低溫機(jī)-江蘇康士捷機(jī)械設(shè)備有限公司設(shè)計(jì)生產(chǎn)。

康士捷生產(chǎn)的工業(yè)控溫設(shè)備有高溫型（5℃～35℃）、中溫型（-5℃～-40℃）、低溫型（-40℃～-80℃）、極低溫型（-150℃～-80℃）、冷熱兩用型（-150℃～+300℃）等系列產(chǎn)品供貴司選用。制冷量大小都有，有防爆型，防腐型，撬裝式，變頻型等。接受非標(biāo)定做。溫度穩(wěn)定性±0.1℃等可選。

以下列出部分參數(shù)，貴司參數(shù)溝通選型后確認(rèn)。

電子元器件老化測(cè)試-55℃至+125℃高低溫機(jī)

電子元器件（如芯片、PCB、傳感器等）在-55℃至+125℃范圍內(nèi)的老化測(cè)試（Burn-in Test）是評(píng)估其可靠性、壽命及環(huán)境適應(yīng)性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。

電子元器件老化測(cè)試-55℃至+125℃高低溫機(jī)典型應(yīng)用

IC芯片（CPU、GPU、存儲(chǔ)器）的高低溫循環(huán)測(cè)試。

汽車(chē)電子（ECU、雷達(dá)、BMS）的AEC-Q100/-200認(rèn)證。

電子（航天級(jí)元器件）的MIL-STD-883測(cè)試。

消費(fèi)電子（手機(jī)主板、IoT模塊）的長(zhǎng)期老化驗(yàn)證。

核心測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

適用范圍	溫度要求
車(chē)規(guī)級(jí)芯片	-40℃~+125℃（Grade 1）
/航天電子	-55℃~+125℃（Method 1010）
電子器件溫度循環(huán)測(cè)試	-65℃~+150℃（可選）
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)（低溫/高溫）	-55℃~+125℃（定制）